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計測器・検査・検証

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NIWeek2017(図1)では、Technology Convergenceという言葉が10年ぶりにNational Instrumentsのエグゼクティブから聞かされた。NIは、ソフトウエア定義とプラットフォームをまい進する測定器メーカーだ。30年前からプラットフォーム戦略をとってきた、いわば時代を先取りしてきた企業だ。なぜ今、またコンバージェンスか。 [→続きを読む]
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Tony Vento氏、National Instruments社Vice President, Systems Assurance and Partners National Instrumentsは、1976年に設立され、GPIBバスからPCIバスを通して計測部分はハードウエアモジュールで、テスト手法はグラフィカルなソフトウエアのLabVIEWで、それぞれ行い、データ処理はパソコンで行うというプラットフォームベースの測定器を開発してきた。昨今のプラットフォームやSoftware-defined xxxというコンセプトを先取りしてきた企業だ。LabVIEWの最初のアプリケーションエンジニアだというTony Vento氏がこのほど来日、ユニークなパートナー作りについて聞いた。 [→続きを読む]
ワイヤレス通信に必須のRF回路の特性を評価するためのテスターとして、ネットワークアナライザが有効だが、これまでの半額以下という100万円台の製品(図1)がTektronixから発売された。sパラメータや周波数軸のスペクトルデータを最大6GHzまで測れるという優れモノ。 [→続きを読む]
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半導体の自動テスト(ATE)にもTCO(Total Cost of Ownership)の考え方を導入することで設備投資を、より低コストで済ませる。National Instrumentsがこのほどまとめた冊子「Automated Test Outlook 2017」(図1)において、テスターの導入にあたって今後の展望を考慮しながらコストを上げない戦略を披露した。 [→続きを読む]
スペアナのように周波数ドメインの信号やノイズを観測でき、しかもわずか8万円という超低価格のオシロスコープが発売された。これは、旧Hewlett-Packard→Agilent TechnologiesからスピンオフしたKeysight Technologiesが発表したもの。 [→続きを読む]
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National Instruments社が半導体メーカー向けのテスターSTS(Semiconductor Test System)をリリースしてから2年経った。日本市場での手ごたえはどうか。来日した、PXIプラットフォーム&モジュラー測定器部門担当のTravis White氏にSTSの最新事情について聞いた。 [→続きを読む]
1台のクルマに占めるエレクトロニクス(ECU:電子制御ユニット)の割合は自動運転時代には今以上に増えてくる。レーダーやLIDAR、802.11p、V2X、GPS/GNSS、キーレスエントリ、TPMSなど特に無線システムは急増する。それらのテストコストを減らす一つの解決案がNational InstrumentsのHILsだ。 [→続きを読む]
半導体の基本は、やはりトランジスタ。トランジスタの性能を正確に測ろうとすると実はかなり難しくなってきている。オフからオンへの立ち上がりの速いSiCやGaNなどが登場、周波数帯域が拡大した。半導体は太陽電池やディスプレイTFT、ReRAM/PCRAMなど、パラメータ測定が必要な産業が拡大した。Tektronixはそのような性能・産業に向けた半導体測定器をリリースした。 [→続きを読む]
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研究開発用のフレキシブルな測定器を開発している米National Instruments社が半導体テスターを充実させてきた。8月にテキサス州オースチンで開かれたNIWeek 2016において、抵抗変化型メモリ用のテスターをはじめ、テストパターン発生器とその開発ツール(ソフトウエア)、RF半導体用テスターVST2.0、2年前に発表したSTSの進化状況などを発表した。 [→続きを読む]
National Instrumentsが主催したプライベートイベント、NIWeek 2016(参考資料1)では、昨年の同じイベントで方向性を打ち出した、IIoT(工業用IoT)と5Gの具体例を紹介した。IIoTでは、データ解析にマシンラーニング(人工知能:AI)を使い始める例が数件あった。IoTはAIとの組み合わせがメジャーになりそうだ。 [→続きを読む]
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