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計測器・検査・検証

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LSIの多ピン化が進むにつれ機能テストを行うことが大変になってきた。DUT(Device under Test)と測定器の間で、端子を自動的に切り替えられないものか、という悩みを解決してくれるスイッチングボードであり、最大6144個の機能ピンまで対応できる製品(図1)が登場した。製造販売するのはPickering Interfaces社で、国内はアンドールシステムサポートが対応する。 [→続きを読む]
Tektronixは、80名の顧客のエンジニアへのインタビューによる要望をフィードバックして設計・製造した新製品オシロスコープ「3シリーズMDO」と「4シリーズMSO」を発売した。オシロに対するエンジニアの要求とは何か? [→続きを読む]
第5世代の携帯通信5Gのサービスが始まったものの、まだサブ6GHzの低い周波数でのスタートとなった。National Instrumentsは、本命のミリ波での半導体RFチップをテストするため、東京エレクトロン、FormFactorReid-Ashmanと組み、5GのRFチップのウェーハをテストできる装置を開発した(図1)。 [→続きを読む]
半導体メーカーがチップだけを売る時代は終わった。ツールを揃えることで、カスタマイズしやすさが半導体ビジネスの優劣を決めるようになった。その例を幕張メッセで開催されたTechno-Frontier 2019に出展したON Semiconductorに見ることができる。 [→続きを読む]
半導体チップに任意のアナログ波形を2チャンネル分入力でき、しかも27万円台からという低価格の任意波形ファンクションジェネレータAFG31000をTektronixが発売した。9インチの液晶ディスプレイにタッチスクリーンセンサを重ねているため、スマホのようにタッチ・ズーム・スワイプ動作が可能であり、リアルタイム波形モニタとしても使える。 [→続きを読む]
Keysight Technologiesが“超”ハイエンドなリアルタイムオシロスコープを発表した。Infiniium UXRシリーズは、最大周波数帯域がミリ波の110GHz、1Tbpsの超高速データレートを測定できるという優れもの。逓倍器なしで直接ミリ波を測定できる。Keysightはもともと超高周波に強いHewlett-Packardの流れを組む計測器メーカーだけに技術を鼓舞したといえる。 [→続きを読む]
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ソフトウエアベースの測定器メーカーである米National Instrumentsが半導体用のテスターSTS(Semiconductor Test System)を発表したのが2014年。アナログやミクストシグナル、RFなどデジタル以外の半導体チップをテストするテスターとして独自の地位を確立しつつある。STSは今、どのようなレベルに来ているのか、STSのマーケティングを担当するDavid Hall氏に最新状況を聞いた。 [→続きを読む]
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NIWeekの基調講演はいつも新トレンドを表す言葉が並んでいたが、今年は少し違った。National InstrumentsのEVPであるEric Starkloff氏(図1)は、PCやスペースシャトルのような画期的な発明が少なくなってきた今、個人同士のつながりやチームワークが重要になることを示唆した。 [→続きを読む]
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日本ナショナルインスツルメンツ社は昨年5月に、自動計測テストシステム用のソフトウエアのGUIを刷新したLabVIEW NXG(Next Generation)を発表したが、このほどその最新版であるNXG 2.0をリリースした。これによって、テストシステムの設定時間を短縮し、テストソフトウエアの統合を強化できるという。 [→続きを読む]
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DRAMのような大量生産品に集中していたかつての国内半導体企業は、大量生産すると安いが、少量多品種は高いと考えていた。IoT時代の端末は超少量多品種になる。これをいかに低コストで作るかが問われている。その解の一つをソフトウエアベースの測定器メーカーNational Instrumentsが示唆している。日本NIの代表取締役に就任してほぼ1年半になるコラーナ・マンディップシング氏にNIの戦略を聞いた。 [→続きを読む]
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