2026年3月31日
|技術分析(半導体応用)
本当の意味でのスマートグリッドが始まっている。賢い(smart)電力網では、電力会社の大型の発電システムだけではなく、家庭のソーラーシステムやEV(電気自動車)のバッテリシステムも小規模な分散電源となる。もしこれらの分散電源の一つが分断されていることにグリッドの制御センターが気づかないと、逆潮流などの事故防止のための長時間停電につながりかねない。Keysight Technologyは分断された状態を自動的に検出するテストシステム(図1)を開発した。
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2025年9月24日
|技術分析(製造・検査装置)
測定器メーカーのKeysight Technologiesが毎年恒例のKeysight Worldを開催、今年は任意波形発生器やハイエンドオシロスコープなどを駆使する量子コンピュータの測定システムQCSも示した(図1)。1000Qbitsまで対応できるシステムだと誇示した。キモはどうやらノイズの影響をいかに下げるか、のようだ。量子状態の実現は熱振動を避ける所から始まる。
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2025年9月 4日
|産業分析
工業用のセンシングや制御機器に強いオムロンが半導体分野に力を入れる。会社として本格的に参入するため、半導体に特化した組織としてセミコンダクタ&インキュベーションセンタを2025年4月に設立した。同社は2021年、所有していた半導体工場をミネベアミツミに売却している。今なぜ半導体分野に再び進出するのだろうか。
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2024年9月13日
|技術分析(製造・検査装置)
Keysight Technologiesは、周波数帯域200MHz~1GHz、サンプリングレート3.2Gサンプル/秒という2チャンネル/4チャンネルのオシロスコープ(図1)を137万円から発売した。オシロスコープといってもFFTを掛ければスペクトラムアナライザになる上、信号発生器やロジックアナライザ機能も内蔵しており、統合測定器ともいえるが、分解能が高くノイズが極めて低い。
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2024年8月 7日
|技術分析(製造・検査装置)
半導体の高周波特性やさまざまなパラメータ特性を測定する計測器を設計・製造しているKeysight Technologyが、今年で10回目となるプライベート展示会Keysight Worldを東京・JPタワーホール&カンファレンスで開催した。ここでVLSI 設計データのライフサイクルマネージメントやチップレットの設計ツール、静電容量方式によるボンディングワイヤーの非破壊検査などを紹介している。
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2023年12月 7日
|技術分析(製造・検査装置)
5Gやミリ波などRFチップの高周波特性の測定では時間がかかることが多い。Keysight Technologyが先週、マイクロ波関係の展示会MWE2023で見せたENA-Xベクトルネットワークアナライザ(VNA)は、最大44GHzまでのsパラメータと変調歪解析、NF測定を1度の接続で全て測れる便利な測定器だ。日本初の公開である。
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2023年9月 1日
|技術分析(製造・検査装置)
ガレージ実験室から始まったHewlett-Packard社をルーツに持つKeysight TechnologyがSiCやGaNなど高速パワーデバイスのダイナミック特性を測る計測器「PD1550A」(図1)をKeysight World 2023で展示した。もともと高周波測定機に強いKeysightが、パワー半導体の測定にもその強みを発揮する。特にSiCのスイッチング動作に悩まされてきたエンジニアには福音となる。
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2023年8月22日
|会議報告(プレビュー)
これからの先端パッケージ時代に欠かせなくなるチップレットを使う2.5D/3D-ICをどのようにしてテストをするかが、重要なテーマになってきた。2023年9月12~14日に島根県の松江市(図1)で開催されるThe 7th IEEE International Test Conference in Asia(ITC-Asia)では、チップレットのテストが話題になりそうだ。
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2022年12月27日
|技術分析(製造・検査装置)
アドバンテストが次世代IC製品に向けたテスターをセミコンジャパン2022で相次いで発表した。メモリテスター「inteXcell」(図1)や、VR/ARなどのディスプレイや車載用高精度ディスプライドライバICテスター向けのモジュール「LCD HP」、USB-Type CのパワーデリバリーICテスター向けモジュールなど未来志向の製品向けのテスターやモジュールなどである。
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2021年12月22日
|技術分析(製造・検査装置)
メモリや汎用製品以外の半導体製品が多品種少量に向かい、対応するテスターにもそれに準拠するシステムが求められるが、アドバンテストは新しい半導体製品に対応するテスターを続々セミコンジャパン2021で発表した。いずれもテスト時間を短縮する技術を導入している。
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