高集積SoC向けエミュレータをMentorがリリース
半導体設計回路が正常に動作するかどうかを検証するエミュレータをMentor Graphicsがさらに進化させている。半導体ICの集積度が上がり複雑になるにつれ、設計やプロセスも複雑で難しくなるが、検証も極めて困難になる。ソフトウエアの検証にはシミュレータを使うがハードウエアの検証にはエミュレータを使う(図1)。今回Mentorはエミュレーションに必要なアプリを新規に開発した。 [→続きを読む]
計測器・検査・検証
今年のトレンドを知るNI Trend Watch 2016
日本ナショナルインスツルメンツは、毎年技術の流れを表すNI Trend Watchを発表しているが、「NI Trend Watch 2016」では、五つのトレンドを発表した。5G通信、エッジコンピューティング、IIoTの新ネットワーク規格、IoTデバイスのテスト技術、エンジニアリングソフトウエアの大衆化、である。 [→続きを読む]
FO-WLPに向けた技術トレンドに注目〜セミコンジャパン2015特別インタビュー
吉永 晃氏、株式会社ディスコ 専務執行役員営業本部長
「切る・削る・磨く」を得意とするディスコ。半導体ウェーハをチップに加工する技術のトップメーカである。ディスコがこれから先の半導体ビジネスをどう進めていくのか、セミコンジャパンで同社吉永専務に聞いた。(動画あり)
[→続きを読む]バラつきの少ない装置･材料を〜セミコンジャパン2015特別インタビュー
米村 浩二氏、株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社企画部企画担当参事
セミコンジャパンは半導体製造装置や材料メーカーが出展する展示会。期待される来場者は装置や材料を購入する半導体メーカーの製造部門エンジニア。NANDフラッシュで四日市工場に巨大な設備を持つ東芝は、セミコンジャパンに何を期待するのかを聞いた。(動画あり)。
[→続きを読む]IoTの設計･生産･デジタルまで網羅〜セミコンジャパン2015特別インタビュー
吉田 芳明氏、株式会社アドバンテスト 取締役常務執行役員 企画・渉外担当
半導体テスターの大手、アドバンテストにはこれまでメモリテスターメーカーというイメージがあった。これからのIoT（Internet of Things）に対してどのように対応していくのか、テスターメーカーならではのソリューションを持っているはずだ。アドバンテストのIoTについて聞いた(動画あり)。
[→続きを読む]Mentor、ICパッケージ/PCB設計段階でノイズ解析するシミュレータを発売
クルマ用のECU（電子制御ユニット）をはじめ、全ての電子機器を正常に動かすためにはノイズ対策は欠かせない。ICチップや部品をパッケージ基板やプリント回路基板に載せてから動作を確認するのではなく、載せる前にEMIを確認できる、というツールをMentor Graphicsが明らかにした。 [→続きを読む]
IIoTアーキテクチャが鮮明になってきたNIWeek 2015 (2)
米National Instrumentsが主催するNIWeek 2015（参考資料1）では、工業用IoT（IIoT）を使い、さまざまなシステムを開発した例が発表された。心臓移植の支援、Cirrus LogicのオーディオコーデックICのテストデータを解析する企業、航空機の翼や機体の異常を超音波で検出する例などを紹介する。いずれもデータ解析機能を設けており、「IIoT Ready」になったとしている。 [→続きを読む]
ケースレー、パワー半導体のテストコストを下げる提案
パワー半導体のテストコストを下げる提案をケースレー・インスツルメンツが行った。これは、テクトロニクス・ケースレーイノベーション・フォーラムで明らかにしたもの。並列のパラメータテストやTDDB試験、高温バイアス試験、データ解析での時間短縮事例を紹介した。 [→続きを読む]
日本NI、さまざまな無線規格を1台でテストできる万能テスターを開発
日本ナショナルインスツルメンツ（NI）が、PXIベースのワイヤレス機器のテスターWTS（Wireless Test System）を発表した(図1)。この汎用測定器を使えば、スマートフォンやIoT、無線チップなどの無線デバイスなどの性能・機能のテストが簡単になる。 [→続きを読む]
日立製作所、加速電圧1.2MVの超高圧透過型電子顕微鏡を公開
日立製作所は、分解能が43pm(ピコメートル)と極めて高い透過型電子顕微鏡（TEM）を開発、このほどメディアに公開した(図1)。このTEMの加速電圧は1.2MV(120万ボルト)と非常に高圧で、そのため分解能が上がり、従来より厚い試料も観察できるようになった。 [→続きを読む]
