計測器・検査・検証

ソフトウエアベースの測定器メーカーNational Instrumentsが、マイクロ波のCAD/CAEベンダーのAWRを買収して3年。通信技術が4Gから5Gへ向かうにつれ、両者のシナジー効果(参考資料1)が明確に表れてきた。複雑な5G技術をソフトウエア無線（Software defined radio）で対応し、マイクロ波･ミリ波回路をAWRのAnalyst/AXIEMシミュレータで設計する。 [→続きを読む]

アドバンテストが、セミコンジャパンでテスター新製品を発表した。タッチセンサを集積したLCDドライバIC向けのテスター「T6391」(図1)や、モジュール方式でさまざまなアナログIC/ミクストシグナルICに対応した「EVA100」(図2)、512個のメモリの温度特性を測るハンドラ「M6245」(図3)などだ。 [→続きを読む]

池田　亮太氏、日本ナショナルインスツルメンツ　代表取締役

ソフトウエアベースの計測器を進めてきたNational Instrumentsが最近、半導体用のテスター分野に参入した。彼らのコアとなるPXIモジュラーシステムをベースにした、半導体用のテスターをリリースした(参考資料1)。日本法人日本ナショナルインスツルメンツ代表取締役の池田亮太氏にその狙いを聞いた。(動画あり)

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筐体1台に数枚のボードモジュールを差し込む方式で、ディスプレイ表示やデータ処理にパソコンを使うという測定器を開発してきたNational Instrumentsは、半導体テスター分野にも本格的に乗り出してきた。同社の日本法人、日本ナショナルインスツルメンツは1日のイベントNIDaysを開催、半導体テスター(図1)開発の背景を明らかにした。 [→続きを読む]

Keysight Technologiesは、65Gサンプル/秒と非常に高速のサンプリングレートを持ち、20GHzという極めて広い帯域で最大4チャンネルまで拡張できる任意波形発生器（AWG）を開発、製品化した(図1)。Keysightは、もともとHewlett-Packardを母体として分かれたAgilent Technologyから、さらに計測器部門として2014年8月1日に分離した企業。 [→続きを読む]

Michael L. Santori氏、米National Instruments社フェロー兼製品マーケティング担当バイスプレジデント Software-Designed Instruments（ソフトウエアで設計する測定器）を全面的に打ち出しているNational Instruments社。同社の測定器は、コンピュータとソフトウエアを基本として計測部分のみモジュールで構成するというコンセプトだ。最近、よく聞く言葉として「Software-Defined xxxx」がある。時代がNI社に近づいてきたという感じさえある。同社製品開発を指導するフェローにこれからのNIのあり方を聞いた。 [→続きを読む]

IoT（Internet of Things）、サイバー･フィジカルシステム、ビッグアナログデータ、SDI (Software-Designed Instruments)。8月5日から開催されたNIWeek 2014の初日の基調講演では、主催者のNational Instrumentsは、メガトレンドIoTを話題に採り上げ、IoT時代に対応する測定器のあり方を示唆した。 [→続きを読む]

National Instrumentsは、半導体チップの高性能化・高機能化に合わせてフレキシブルで再構成可能な半導体テストシステムSTS（Semiconductor Test System）を開発した（図1）。RFやミクストシグナル半導体のテスト向け。オープンなモジュラー方式のPXIハードウエアプラットフォームをベースにしているため、実験用から量産用にPXIを増設するだけで移行できる。最大の特長は開発から量産までの期間短縮だ。 [→続きを読む]

AppleのiPadやWindowsパソコンで、設定やデータ解析ができるワイヤレス測定器、VirtualBenchを日本National Instrumentsが発売した。このワイヤレス測定器には、サンプリング周波数1GHzのオシロスコープとファンクションジェネレータ、デジタルマルチメータ（DMM）、プログラマブル電源、デジタルI/Oの5種類の機能を搭載している。 [→続きを読む]

IoT（Internet of Things）やIndustrial Internetの時代に適した予防メンテナンス市場を狙い、Agilent Technologiesがハンドヘルドタイプの赤外線（IR）サーモグラフィと絶縁抵抗計を開発した。サーモグラフィは日本アビオニクスとの共同開発。 [→続きを読む]