トランジスタから回路、データセンターまで幅広く信頼性問題を議論したIRPS 2025
IEEE 2025 International Reliability Physics Symposium (IRPS 2025)が3月30日から4月3日に米国カリフォルニア州のモントレーで開催され（図1）、半導体デバイスの信頼性と性能向上に関する多岐にわたる研究が発表された。いくつか目についた講演を拾ってみる。
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