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半導体向けテスタが世界でヒット〜セミコンジャパン2016特別インタビュー

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久保 法晴氏、日本ナショナルインスツルメンツ テクノカルマーケティングマネージャー

計測器は、計測するためのデバイスよりも高い性能のデバイスを組み込まなければならない。ソフトウエアベースの計測器を特長とするNational Instrumentsはこれまで組み込みシステムの計測を主力にしてきたが、最近は半導体用のテスタにも進出してきた。2016年の見込みと2017年の展望を聞いた。(動画あり)



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