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半導体向けテスタが世界でヒット〜セミコンジャパン2016特別インタビュー

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久保 法晴氏、日本ナショナルインスツルメンツ テクノカルマーケティングマネージャー

計測器は、計測するためのデバイスよりも高い性能のデバイスを組み込まなければならない。ソフトウエアベースの計測器を特長とするNational Instrumentsはこれまで組み込みシステムの計測を主力にしてきたが、最近は半導体用のテスタにも進出してきた。2016年の見込みと2017年の展望を聞いた。(動画あり)

日本NIはNIの日本法人として、計測器の最先端性能を求めるだけではなく、産業の大きなトレンドを常に先取りしている。IoTシステムにおけるエッジコンピューティングのための計測システムを提案し、ITに対するOT(現場:Operating Technology)という言葉でデジタルツインを表現する、など時代の先端を行く。技術インフラの基礎は半導体であることを理解しているからこそ、半導体テスタにも進出した。日本NIのスポークスパーソンである久保法晴氏は語る。(撮影は2016年12月)

久保 法晴氏、日本ナショナルインスツルメンツ テクノカルマーケティングマネージャー

セミコンジャパン2016特別インタビュー一覧 (敬称略、五十音順)

(2017/01/06)

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