池田　亮太氏、日本ナショナルインスツルメンツ　代表取締役

ソフトウエアベースの計測器を進めてきたNational Instrumentsが最近、半導体用のテスター分野に参入した。彼らのコアとなるPXIモジュラーシステムをベースにした、半導体用のテスターをリリースした(参考資料1)。日本法人日本ナショナルインスツルメンツ代表取締役の池田亮太氏にその狙いを聞いた。(動画あり)

このテスターSTSシリーズは、ソフトウエアでの変更とハードウエア（FPGA）での変更を可能にするモジュラー方式のPXIシステムに、半導体用のテストヘッドなどを取り付けたもの。開発だけではなく、量産にも使えるテスターが欲しいという、欧米の半導体メーカーからの要求に応えた。その狙いを日本法人の池田亮太社長に聞いた。

参考資料
1. NI、RF/ミクストシグナルIC向けフレキシブルなテスターをリリース (2014/08/07)