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自動テストもTCOで低コスト化へ

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半導体の自動テスト(ATE)にもTCO(Total Cost of Ownership)の考え方を導入することで設備投資を、より低コストで済ませる。National Instrumentsがこのほどまとめた冊子「Automated Test Outlook 2017」(図1)において、テスターの導入にあたって今後の展望を考慮しながらコストを上げない戦略を披露した。



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