株式会社アドバンテスト

出展の見所

高まるデバイスのテスト・コスト低減ニーズに対応したテスト技術やソリューションを提案します。メモリ分野では「T5385」の768個同即測や機能拡張によるコスト低減、ワンチップLSIを使用した「B8501ES」(新製品)を、非メモリ分野では「T2000」のモジュール・ラインナップやローエンド・デバイス向けの「T7912」(新製品)を展示します。

主要製品

	メモリ・テスト・システム「T5385」 DRAMのウエハ試験で従来機種比2倍の業界最多768個の同時試験を実現したテスト・システムです。さらにメモリ・セル救済解析装置の高速処理により、従来機種と比較して、テスト時間を約30%短縮できます。
	「T2000」モジュール・ラインナップますます多様化する半導体デバイスに対し、高速インタフェース、RFデバイス、CMOSイメージセンサ、車載用半導体に向けた「T2000」のモジュール・ラインナップが拡充。お客様の多様なニーズに対応いたします。
	アナログ・テスト・システム「T7912」比較的少数ピンのアナログICやディスクリート半導体などコストにセンシティブなデバイス用に、本体の大きさ、消費電力、価格などでダウンサイジングを実現しコスト・パフォーマンスを最大限に向上させます。